二階堂 正人 | Nec材料部品分析評価センター

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概要

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• Nec材料部品分析評価センターの論文著者

Nec材料部品分析評価センター | 論文

• 2B-1 動的故障像取得法(AFI法)によるLSIの故障解析(第3回信頼性研究発表会REAJ)
• 電位像を用いたロジックLSIの故障箇所絞り込み手法の応用
• 動的故障像取得によるLSIの故障箇所絞り込み
• アルカリ金属をインターカレートしたC_の^C-NMR
• 29a-J-11 Li2AC60(A=CsおよびRb)の構造と電子物性

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