MATSUDA Youichi | National Research Laboratory of Metrology
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概要
関連著者
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MATSUDA Youichi
National Research Laboratory of Metrology
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松田 洋一
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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永井 聰
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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永井 聡
計量研
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Nagai Satoshi
Faculty Of Engineering Hokkai-gakuen University
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中野 英俊
産業技術総合研究所計測標準研究部門
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松田 洋一
計量研究所
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永井 聰
計量研究所
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中野 英俊
計量研究所
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秦 勝一郎
計量研究所
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Nagai S
National Research Laboratory Of Metrology
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松田 洋一
工業技術院計量研究所
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永井 聰
工業技術院計量研究所
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NAKANO Hidetoshi
National Research Laboratory of Metrology
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NAGAI Satoshi
National Research Laboratory of Metrology
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Nakano H
Ntt Corp. Kanagawa Jpn
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Matsuda Y
National Research Laboratory Of Metrology
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Nagai Satoshi
National Research Institute Of Fisheries And Environment Of Inland Sea
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Nakano Hidetoshi
National Metrology Institute Of Japan National Institute Of Advanced Industrial Science And Technolo
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中野 英俊
産業技術総合研究所
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山田 勝稔
徳島大学工学部
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吉村 忍
東京大学工学部
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大石 篤哉
徳島大学工学部
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山中 一司
東北大学未来科学技術共同研究センター
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矢川 元基
東京大学工学部
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永井 聰
National Research Laboratory Of Metrology
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秦 勝一郎
工業技術院計量研究所
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中野 英俊
計量研
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中野 英俊
工業技術院計量研究所
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永井 聡
計量研究所
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松田 洋一
National Research Laboratory of Metrology
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松田 洋一
産業技術総合研究所 計測標準研究部門音響振動科強度振動標準研究室
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永井 聰
産業技術総合研
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Muto Kazuo
The Institution of Vocational Training
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大石 篤哉
徳島大
著作論文
- レーザー超音波による精密音速測定と半導体プロセスの温度計測への応用
- レーザ超音波による半導体プロセスの温度計測--シリコンウエーハの温度を非接触・精密計測 (特集 産業の可能性を切り拓くレーザ超音波)
- 超音波の非接触センシング
- レーザ超音波による弾性率評価
- リレー解説(第6回)レーザー励起超音波による材料評価
- レーザ超音波による硬質膜の高温での音速測定
- レーザー光による力学物性計測法の開発 -光と音の融合を目指して-
- 非接触超音波による材料評価
- 超音波の非接触センシング
- 短パルス超音波を用いた薄板の音速測定
- 粗面試料上での超音波の光学的検出法
- 非接触超音波測定のための位相共役波の応用(最近の高品質光ビーム制御技術)
- Optical Detection of Transient Lamb Waves on Rough Surfaces by a Phase-Conjugate Method
- ニューラルネットワークと計算力学を用いた超音波欠陥同定法 : レーザ超音波実験による精度検証
- レーザ超音波によるアコースティック・エミッションセンサの表面波校正
- Precise Laser Ultrasonic Technique with Application to Silicon Velocity Measurements
- Calibration of acoustic emission sensors with laser-generated ultrasonic wave