鎌田 善己 | MIRAI-東芝

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概要

• 同名の論文著者
• MIRAI-東芝の論文著者

関連著者

• 手塚 勉

  MIRAI-ASET

• 高島 章

  東芝

• 鎌田 善己

  MIRAI-東芝

著作論文

• Ge MOSデバイスの熱安定性 : Ge oxygen[GeO(g)]脱ガスにおけるGe monoxide[GeO(II)]の役割(レギュラーセッション,ゲート絶縁薄膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)

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