川崎 雅司 | 産業技術総合研究所強相関電子技術研究センター
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概要
関連著者
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澤 彰仁
産業技術総合研究所 強相関電子技術研究センター
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十倉 好紀
産業技術総合研究所強相関電子研究センター
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藤井 健志
産業技術総合研究所強相関電子技術研究センター
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川崎 雅司
産業技術総合研究所強相関電子技術研究センター
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澤 彰仁
産総研
著作論文
- ペロブスカイト型酸化物ヘテロ接合の抵抗スイッチング・メモリ(New Materials and Processes, 先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショップ(AWAD2005))
- 遷移金属酸化物接合の電界誘起抵抗スイッチング : RRAMの動作メカニズム解明を目指して(新型不揮発性メモリ)
- ペロブスカイト型酸化物界面の抵抗スイッチング効果
- ペロブスカイト型酸化物ヘテロ接合の抵抗スイッチング・メモリ(New Materials and Processes, 先端デバイスの基礎と応用に関するアジアワークショップ(AWAD2005))
- 遷移金属酸化物接合の電界誘起抵抗スイッチング : RRAMの動作メカニズム解明を目指して