貞近 倫夫 | 広島大学先端物質科学研究科
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概要
関連著者
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三浦 道子
広島大学HiSIM研究センター
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安藤 慎
広島大学先端物質科学研究科
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村上 貴洋
広島大学hisim研究センター
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貞近 倫夫
広島大学先端物質科学研究科
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吉田 隆樹
株式会社NEC情報システムズ
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三浦 道子
広島大学hisim研究センター:広島大学大学院先端物質科学研究科
著作論文
- SOI-MOSFETにおける基板浮遊効果のモデル化(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)
- SOI-MOSFETにおける基板浮遊効果のモデル化(プロセス・デバイス・回路シミュレーション及び一般)