瀬戸屋 孝 | (株)東芝 半導体品質保証部 信頼性技術第二部lsi信頼性技術第一担当

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概要

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関連著者

• 瀬戸屋 孝

  (株)東芝 半導体品質保証部 信頼性技術第二部lsi信頼性技術第一担当

• 瀬戸屋 孝

  株式会社東芝

• 中村 孝司

  株式会社東芝半導体品質保証部信頼性技術第二担当システムlsi品質信頼性技術担当

• 若井 伸之

  (株)東芝 半導体品質保証部 信頼性技術第二部LSI信頼性技術第一担当

• 堤 雅義

  東芝マイクトロニクス株式会社信頼性ラボラトリー

著作論文

• ワイブル分布を仮定したLSIのスクリーニング時間決定方法の検討(第10回信頼性シンポジウムREAJ)
• PN接合のESD破壊メカニズムの検討

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