全 容振 | NEC基礎研究所、システムデバイス・基礎研究本部

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概要

• 同名の論文著者
• NEC基礎研究所、システムデバイス・基礎研究本部の論文著者

関連著者

• 馬場 寿夫

  NEC基礎研

• 馬場 寿夫

  Nec基礎研究所、システムデバイス・基礎研究本部

• 植村 哲也

  Nec基礎研究所、システムデバイス・基礎研究本部

• 全 容震

  Nec基礎研究所、システムデバイス・基礎研究本部

• 全 容振

  NEC基礎研究所、システムデバイス・基礎研究本部

著作論文

• 80nmゲート長を有するセルフアラインSTT

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