白崎 博公 | 玉川大学工学部電子工学科
スポンサーリンク
概要
関連著者
著作論文
- 斜め入射を考慮したFDTD法による次世代半導体線路幅形状のscatterometry計測
- C-2-37 KlopfensteinおよびHeckenテーパ形マイクロストリップ線路のモード整合法とFDTD法による最適設計
- 干渉分光データのウェーブレット処理によるシリコン微細溝形状測定シミュレーション
- KlopfensteinおよびHeckenテーパ形マイクロストリップ線路の導波管モデルによる最適設計
- 干渉分光データの信号処理による誘電体トレンチ深さ測定シミュレーション
- 干渉分光データのFFT処理による誘電体トレンチ深さ測定シミュレーション
- 干渉分光データの信号処理によるトレンチ深さ測定シミュレーション
- 光波による半導体トレンチの深さと溝幅測定
- 光波による半導体トレンチの溝幅と深さ測定シミュレーション
- 特性インピーダンスn乗コサイン形マイクロストリップ線路の導波管モデルによる階段近似解析
- 特性インピーダンスn乗コサイン形マイクロストリップ線路の導波管モデルによる階段近似解析
- 特性インピーダンスn乗コサイン形マイクロストリップ線路の導波管モデルによる階段近似解析