加藤 一郎 | NECエレクトロニクス株式会社

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概要

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• 同名の論文著者
• NECエレクトロニクス株式会社の論文著者

関連著者

• 横川 慎二

  NECエレクトロニクス

• 横川 慎二

  Necエレクトロニクス株式会社

• 横川 慎二

  電気通信大学

• 加藤 一郎

  NECエレクトロニクス株式会社

• 横川 慎二

  ルネサスエレクトロニクス株式会社

• 清水 立雄

  NECエレクトロニクス株式会社

著作論文

• 5-1 HfSiOxによる仕事関数制御MOSトランジスタにおけるランダム・テレグラフ・ノイズ(セッション5「試験,故障解析,部品,要素技術の信頼性,ハードウェア面」)
• 2.1 p-MOSFETにおけるNBTIによる劣化予測モデルに関する一考察(セッション2「故障解析・デバイス(1)」)(第16回信頼性シンポジウム発表報文集)
• 2-1 p-MOSFET における NBTI による劣化予測モデルに関する一考察

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