関根 誠 | NEC ULSIデバイス開発研究所

スポンサーリンク

概要

• 同名の論文著者
• NEC ULSIデバイス開発研究所の論文著者

関連著者

• 関根 誠

  NECエレクトロニクス株式会社

• 吉川 公麿

  NEC ULSIデバイス開発研究所

• 角原 由美

  NECエレクトロニクス株式会社先端デバイス開発部

• 関根 誠

  NEC ULSIデバイス開発研究所

• 角原 由美

  NEC ULSIデバイス開発研究所

著作論文

• コンタクト底部のSi表面状態によるコンタクト抵抗の劣化

スポンサーリンク