横川 慎二 | Necエレクトロニクス株式会社基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部

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概要

• 同名の論文著者
• Necエレクトロニクス株式会社基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部の論文著者

関連著者

• 横川 慎二

  ルネサスエレクトロニクス株式会社

• 横川 慎二

  NECエレクトロニクス

• 横川 慎二

  Necエレクトロニクス株式会社基盤技術開発事業本部テスト評価技術開発事業部

• 横川 慎二

  電気通信大学

著作論文

• システムLSIの信頼性を測る(信頼性を測る)
• シングルダマシンCu配線におけるパルス電流下のエレクトロマイグレーション挙動(電子部品)

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