柳沢 寛 | (株)日立製作所デバイス開発センター

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概要

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• 同名の論文著者
• (株)日立製作所デバイス開発センターの論文著者

関連著者

• 黒田 淳

  日立超lsiシステムズ

• 大鹿 克志

  (株)日立製作所半導体事業部

• 柳沢 寛

  (株)日立製作所デバイス開発センター

• 大鹿 克志

  日立製作所半導体事業部

• 柳沢 寛

  日立製作所デバイス開発センター

• 黒田 淳

  (株)日立超LSIシステムズ

著作論文

• SiON系パッシベーション膜の0.35μmHIGFET特性への影響
• GaAs表面酸化膜の0.35μmHIGFET特性への影響
• SiON系パッシベーション膜の0.35μmHIGFET特性への影響
• SiON系パッシベーション膜の0.35μmHIGFET特性への影響
• SiON系パッシベーション膜の0.35μmHIGFET特性への影響

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