吉田 晴彦 | 兵庫県立大学大学院工学研究科

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• 吉田 晴彦

  兵庫県立大学大学院工学研究科

• 宇野 良平

  兵庫県立大学大学院工学研究科

• 佐藤 真一

  兵庫県立大学大学院工学研究科

• 吉田 晴彦

  姫路工業大学工学部電子工学科

• 岸野 正剛

  姫路工業大学工学部電子工学科

• 内橋 貴之

  姫路工業大学工学部電子工学科

• 石塚 義守

  姫路工業大学工学部電子工学科

• 岩本 進

  姫路工大

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  姫路工大

• 岸野 正剛

  姫路工大

• 岸野 正剛

  姫路工業大学

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著作論文

• SOIウェーハの非接触電気特性評価(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)
• 走査型容量顕微鏡による半導体材料のサブミクロン評価(半導体エレクトロニクス)
• 等温容量過渡分光法によるSi-MOS構造の深い準位の評価
• SOIウェーハの非接触電気特性評価(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)
• SOIウェーハの非接触電気特性評価(半導体表面・界面制御と電子デバイスの信頼性, 信頼性一般)
• ICTS法によるSi-MOS界面準位の測定

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