川口 康 | 東大院総合
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概要
関連著者
著作論文
- 27pTC-6 臨界電流値が素子幅に比例しない量子ホール効果崩壊現象
- 28pーR-13 臨界電流値が試料幅にスケールしない量子ホール効果Breakdown現象
- 28p-R-13 臨界電流値が試料幅にスケールしない量子ホール効果Breakdown現象
- ブーストラップ式電子加熱 : 量子ホール効果崩壊の可能な機構
- QHE Breakdown臨界電流値以上で生じる非対称性
- QHE Breakdown臨界電流値以上で生じる縦抵抗の指数関数的増大
- ブーストラップ式電子加熱 : 量子ホール効果崩壊の可能な機構
- QHB Breakdown臨界電流値以上で生じる非対称性
- QHB Breakdown臨界電流値以上で生じる縦抵抗の指数関数的増大