小宮山 進 | 東大院総合文化
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概要
関連著者
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小宮山 進
東大院総合文化
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小宮山 進
東大院総合
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東大院総合
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理研:jstさきがけ
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河野 行雄
東大院総合
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小宮山 進
東大総合文化
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町田 友樹
東大院総合
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小林 直樹
東大院理
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平井 宏
東大教養
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小宮山 進
東京大学総合文化研究科
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東大院総合
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東大院総合
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町田 友樹
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東大工
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京大工
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東大院総合
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東大院総合文化
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東京大学大学院総合文化研究科
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NEC基礎・環境研究所
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松下 未知雄
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東大院総合
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伊藤 良一
東大先端研
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菅原 正
東京大学
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川口 康
東大生産研
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阪本 利司
日本電気(株)基礎・環境研究所
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谷林 慧
東大院総合
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平川 一彦
東京大
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源 将
Univ. of Tokyo
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ニッケルス パトリック
Univ. Of Tokyo
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町田 友樹
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村木 康二
NTT物性基礎研
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小林 泰子
東京大学総合文化研究科
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東京大学大学院総合文化研究科
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山崎 智幸
東大院総合
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小宮山 進
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徳重 貴久
東大院総合
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矢野 直佳
東大院総合
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小林 泰子
東大院総合文化
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平川 一彦
東大生研
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平山 祥郎
NTT物性基礎研
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平川 一彦
東大生産研
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坪井 理広
東大院総合
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町田 友樹
科技団さきがけ
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佐々 誠彦
大阪工業大学
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鄭 宗煥
東大院総合
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冷水 佐壽
富士通研究所
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佐々 誠彦
富士通研究所
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中川 一彦
東京大学生産技術研究所
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竹ノ内 弘和
東大教養
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尾上 秀平
東大教養
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生嶋 健司
農工大院工
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國谷 幸佑
農工大院工
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Astafiev Oleg.v.
科学技術振興事業団
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久津輪 武史
東京大学大学院 総合文化研究科
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久津輪 武史
東大院総合
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小宮山 進
東大・院・総合
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川口 康
東大・院・総合
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谷林 慧
東大・院・総合
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小林 直樹
東大教養
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徳重 貴久
東大教養
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矢野 直佳
東大教養
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白木 靖寛
RCAST
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長田 俊人
RCAST
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坪井 理広
東大院総合文化
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久永 幸博
東大教養
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岡本 徹
東大理
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町田 友樹
東大生産研
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生嶋 健司
東京農工大学
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東大院総合文化
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小宮山 進
東大総文
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長谷川 琢真
東大総合文化
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東京大学総合文化研究科
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長谷川 琢真
東大院総合文化
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吉村 育大
東大院総合文化
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佐久間 寿人
東大院総合文化
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町田 友樹
JSTさきがけ
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Necデバイスプラットフォーム研究所
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河野 行雄
東大理
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高瀬 恵子
東大理
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Astafiev Oleg
東京大学大学院総合文化研究科
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深津 晋
日電マイクロエレ研
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白木 靖寛
日電マイクロエレ研
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伊藤 良一
日電マイクロエレ研
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林 文男
東大教養
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平山 祥郎
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大野 奈津美
農工大院工
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Astafiev Oleg
科学技術振興事業団
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ASTAFIEV Oleg.V
科学技術振興事業団
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Astafiev Oleg
科技団
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Antonov Vladimir
科技団
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阪本 利司
Nec 基礎・環境研
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小宮山 進
JST (CREST)
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川口 康
東京大学大学院総合文化研究科
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川口 康
東大教養
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Nickels Patrick
Univ. of Tokyo
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松下 未知雄
Univ. of Tokyo
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菅原 正
Univ. of Tokyo
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小宮山 進
Univ. of Tokyo
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ニッケルス パトリック
東大総文
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松下 未知雄
東大総文
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源 将
東大総文
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菅原 正
東大総文
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Nickels Patrick
Dept. of Basic Science, Grad. Shool of Arts and Sci. Univ. of Tokyo
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松下 未知雄
Dept. of Basic Science, Grad. Shool of Arts and Sci. Univ. of Tokyo
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源 将
Dept. of Basic Science, Grad. Shool of Arts and Sci. Univ. of Tokyo
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菅原 正
Dept. of Basic Science, Grad. Shool of Arts and Sci. Univ. of Tokyo
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小宮山 進
Dept. of Basic Science, Grad. Shool of Arts and Sci. Univ. of Tokyo
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Nickels Patrick
東大総合文化
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松下 未知雄
東大総合文化
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源 将
東大総合文化
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菅原 正
東大総合文化
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中島 峻
東京大学総合文化研究科
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高瀬 恵子
Ntt物性科学基礎研究所
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Astafiev O.
Japan Soience And Technology Corporation
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樋田 啓
東大総合文化
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中島 峻
東大院総合文化
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高瀬 恵子
Ntt物性基礎研
著作論文
- 3J2b-2 超音波による電気・磁気特性の画像化(映像法/非破壊検査)
- 19pYC-4 量子ホール電子系のテラヘルツ光子計数イメージングI(量子ホール効果,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- 13pYB-3 量子ホール系のサイクロトロン発光 II : フォトンカウンティング計測(量子ホール効果, 領域 4)
- 29pYG-12 量子ホール端状態による動的核スピン偏極の空間分布検出(量子ホール効果)(領域4)
- 21pTL-14 量子ホール素子における核スピン制御と高周波磁場分布解析
- 31aZP-3 量子ホール系端状態を用いた核スピンエコーの観測
- 24pD-7 強磁場中二次元電子系の位相干渉性
- 30p-Q-11 強磁場下クローン振動の遠赤外光応答
- 30p-Q-11 強磁場下クーロン振動の遠赤外光応答
- 8a-N-3 非弾性散乱長の奇妙なソース・ドレイン電圧依存性
- 8a-N-2 量子ホール状態間遷移の試料形状依存性
- 8a-N-1 量子ホール状態における二次元電子系の位相干渉性
- 7a-N-4 強磁場下量子ドットでのクーロン振動
- 7a-N-4 強磁場下量子ドットでのクローン振動
- 29a-R-12 量子ドットを使用した単一光子検出の可能性
- 28p-R-9 強磁場二次元電子系の位相干渉性
- エッジ状態エネルギー分散関係の実験的探求
- 量子ホール効果状態におけるエッジ状態の位相干渉性
- 量子ホール効果状態間遷移領域における非弾性散乱長の絶対的決定
- 24aYT-4 光パルス励起による量子ホール系非平衡キャリアダイナミクスの観測II(量子ホール効果,領域4(半導体, メゾスコピック系・局在))
- 23aL-7 量子ホール効果デバイスからのサイクロトロン発光 : 空間分解測定III
- 24pD-8 量子ホール効果状態における光励起キャリアの寿命測定
- 28a-ZB-10 量子ホール効果崩壊に伴う雑音の測定
- 26p-YG-15 量子ホール効果デバイスからのサイクロトロン発光 : 空間分解測定II
- 30p-Q-15 量子ホール効果状態における遠赤外光伝導の時定数
- エッジ状態間散乱の温度、及び、磁場依存性
- 28p-X-6 エッジ状態間散乱の温度、及び、磁場依存性
- 29a-L-4 量子ホール効果状態における遠赤外域光伝導
- 29a-L-3 量子ホール効果降伏電流の異常な試料幅依存性
- 29a-L-4 量子ホール効果状態における遠赤外域光伝導
- 27pTC-7 量子ホール遷移における磁気抵抗揺らぎ
- 24aD-8 分数エッジチャネルにおける非平衡分布の観測
- 28a-ZB-9 磁気抵抗揺らぎによる量子ホール二次元電子系の位相干渉性の探求
- 28a-ZB-9 磁気抵抗揺らぎによる量子ホール二次元電子系の位相干渉性の探求
- 25aWR-7 量子ホール効果素子におけるテラヘルツ波の発生・伝搬・検出(25aWR 量子ホール効果,領域4(半導体メゾスコピック系・局在))
- 28a-ZB-10 量子ホール効果崩壊に伴う雑音の測定
- 26p-YG-15 量子ホール効果デバイスからのサイクロトロン発光 : 空間分解測定II
- 30p-Q-13 二次元電子系の遠赤外応答におけるゲート電極の効果(II)
- 30p-Q-13 二次元電子系の遠赤外応答におけるゲート電極の効果(II)
- 25pK-4 サブミリメーター波長域での単一光子検出 : サイクロトロン励起状態の寿命
- 30p-Q-12 二次元電子系の遠赤外応答におけるゲート電極の効果(I)
- 30p-Q-12 二次元電子系の遠赤外応答におけるゲート電極の効果(I)
- 8a-N-10 量子ホール効果デバイスによる超高感度遠赤外線検出
- 8a-N-10 量子ホール効果デバイスによる超高感度遠赤外線検出
- 17pYG-6 整数量子ホール効果Breakdown現象の距離発展
- 27pTC-6 臨界電流値が素子幅に比例しない量子ホール効果崩壊現象
- 30p-Q-2 量子ホール効果状態における電場の影響
- 30p-Q-2 量子ホール効果状態における電場の影響
- 28pーR-13 臨界電流値が試料幅にスケールしない量子ホール効果Breakdown現象
- 28p-R-11 量子ホール効果の熱的安定性
- 28p-R-13 臨界電流値が試料幅にスケールしない量子ホール効果Breakdown現象
- 28p-R-11 量子ホール効果の熱的安定性
- ブーストラップ式電子加熱 : 量子ホール効果崩壊の可能な機構
- QHE Breakdown臨界電流値以上で生じる非対称性
- QHE Breakdown臨界電流値以上で生じる縦抵抗の指数関数的増大
- ブーストラップ式電子加熱 : 量子ホール効果崩壊の可能な機構
- QHB Breakdown臨界電流値以上で生じる非対称性
- QHB Breakdown臨界電流値以上で生じる縦抵抗の指数関数的増大
- 3a-E-9 量子ホール効果Breakdown現象における顕著な非局所性II
- 量子ホール効果Breakdown現象における顕著な非局所性
- 3a-E-11 量子ホール効果デバイスにおける電流注入II
- 量子ホール効果デバイスにおける電流注入
- 28p-X-8 量子ホール効果デバイスにおける電流注入
- 4a-J-10 量子ホール効果デバイスでの雑音測定II
- 4p-J-10 量子ホール効果デバイスでの雑音測定II
- 26pTF-11 Electronic Properties of Gold Nanoparticle-Molecular Wire Networks
- 22aRC-7 金ナノ粒子・分子ワイヤネットワークの伝導特性(導電性高分子・分子デバイス,領域7,分子性固体・有機導体)
- 21aRJ-13 Spin correlated tunneling in Nano Particle Networks connected by Spin-polarized Molecular Wire
- 30pXC-1 Conducting Properties of Gold Nano Particle Networks connected by Molecular Wires
- 28p-R-12 ゲート付試料における量子ホール効果のブレークダウン
- 28p-R-12 ゲート付試料における量子ホール効果のブレークダウン
- 8a-N-3 非弾性散乱長の奇妙なソース・ドレイン電圧依存性
- 8a-N-2 量子ホール状態間遷移の試料形状依存性
- 8a-N-1 量子ホール状態における二次元電子系の位相干渉性
- 29a-R-12 量子ドットを使用した単一光子検出の可能性
- 28p-R-9 強磁場二次元電子系の位相干渉性
- 27pXB-4 量子ホール系端状態による核スピン偏極生成 : 囲い込みポテンシャル依存性(27pXB 量子ホール効果,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- 19pYC-9 量子ホール系端状態で形成される核スピン偏極の減衰時間(量子ホール効果,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- 19pYC-8 量子ホール系端状態で形成される核スピン偏極の空間分布(量子ホール効果,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- 30p-Q-15 量子ホール効果状態における遠赤外光伝導の時定数
- 8a-N-11 量子ホール効果デバイスからのサイクロトロン発光 : 空間分解測定
- 6p-N-6 量子ホール効果素子からのサイクロトロン発光
- 8a-N-11 量子ホール効果デバイスからのサイクロトロン発光:空間分解測定
- 6p-N-6 量子ホール効果素子からのサイクロトロン発光
- 28p-R-8 量子ホール効果状態における遠赤外光伝導信号の時間分解測定
- 28p-R-8 量子ホール効果状態における遠赤外光伝導信号の時間分解測定
- 量子ホール効果デバイスからのサイクロトロン発光II
- 量子ホール効果デバイスからのサイクロトロン発光II
- 25aWR-8 エッジ状態間散乱に伴う光子の生成とそのオンチップ検出(25aWR 量子ホール効果,領域4(半導体メゾスコピック系・局在))
- 27aXB-6 量子ホール効果端状態の位相干渉性(27aXB 量子ホール効果,領域4(半導体,メゾスコピック系・局在))
- 18pYH-5 分数エッジチャネルによる核磁気共鳴の観測
- 27pTB-12 半導体量子ドットの遠赤外応答とプラズマ振動
- エッジ状態エネルギー分散関係の実験的探究
- 量子ホール効果状態におけるエッジ状態の位相干渉性
- 量子ホール効果状態間遷移領域における非弾性散乱長の絶対的決定
- 31a-YA-3 量子ホール効果状態における位相可干渉性の探求
- 3a-E-12 量子ホール効果デバイスからのサイクロトロン発光の測定
- 3a-E-10 量子ホール効果状態における遠赤外光伝導II
- 量子ホール効果状態における遠赤外線光応答
- 28a-X-2 量子ホール効果状態における遠赤外線光応答
- エッジ状態と量子ホール効果
- 29p-Y-5 エッジ状態と量子ホール効果
- 28p-X-5 磁場中の2つの伝導電流