河野 好映 | 日本アイ・ビー・エム株式会社

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概要

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• 同名の論文著者
• 日本アイ・ビー・エム株式会社の論文著者

関連著者

• 清水 正男

  日本アイ・ビー・エム(株)

• 西川 明

  (株)アイテス半導体故障解析

• 西川 明

  株式会社アイテス

• 小谷 知世

  株式会社アイテス

• 三浦 伸仁

  株式会社アイテス

• 河野 好映

  日本アイ・ビー・エム株式会社

• 清水 正男

  日本アイ・ビー・エム株式会社

著作論文

• 6-4 OBICを用いたレーザービームキャリア注入技術によるCMOS LSIの不良解析 : LIST法(Light lnduced State Transition Method)による不良解析(日本信頼性学会第9回信頼性シンポジウム)

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