松澤 寿一 | (株)アイテス半導体故障解析

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概要

• 同名の論文著者
• (株)アイテス半導体故障解析の論文著者

関連著者

• 坂 公恭

  名古屋大学工学部

• 加藤 直子

  株式会社アイテス品質技術部

• 加藤 直子

  (株)アイテス 技術事業部 品質技術部

• 松澤 寿一

  (株)アイテス半導体故障解析

• 松澤 寿一

  株式会社アイテス

• 坂 公恭

  名古屋大学

• 坂 公恭

  名大・大学院

• 西川 明

  (株)アイテス半導体故障解析

著作論文

• 超音波振動による発生したシリコン転位の電子顕微鏡観察
• FIB照射により発生するGa析出物の電子顕微鏡観察

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