津田 孝一 | (株)富士電機総合研究所

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概要

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関連著者

• 向江 和郎

  (株)富士電機総合研究所

• 津田 孝一

  富士電機総研

• 津田 孝一

  (株)富士電機総合研究所

• 向江 和郎

  (株)富士電機総合研究所セラミックス技術研究所

著作論文

• 二重ショットキー障壁の電圧依存性と界面準位の影響(第1報) : 理論的解析
• ICTS法によるZnOバリスタ界面準位の定量的評価
• Pr系ZnOバリスタのC-t特性
• DLTS法によるZnOバリスター界面準位の評価(センサー・バリスター)(導電性セラミックス)

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