多田 哲生 | 三菱電機株式会社システムLSI開発研究所
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概要
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三菱電機システムLSI研究所
著作論文
- 10-bit A/Dコンバータを内蔵したアナ/デシ混在LSIのアナログIDDQテスト方法
- ディジタルフィルタリングによるテスト用アナログ波形の発生方法
- テスト技術開発の効率化を目的としたテストシミュレーション技術の開発