野中 淳平 | NECエレクトロニクス株式会社テスト評価技術開発事業部
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概要
関連著者
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和田 慎一
Necエレクトロニクス株式会社 テスト評価技術開発事業部
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野中 淳平
NECエレクトロニクス株式会社テスト評価技術開発事業部
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野中 淳平
Necエレクトロニクス株式会社 テスト評価技術開発事業部
著作論文
- 90nmデバイスのLVP測定容易性評価とLVP測定用素子の開発(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
- 90nmデバイスのLVP測定容易性評価とLVP測定用素子の開発(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)