和田 慎一 | Necエレクトロニクス株式会社 テスト評価技術開発事業部

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概要

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• 同名の論文著者
• Necエレクトロニクス株式会社 テスト評価技術開発事業部の論文著者

関連著者

• 和田 慎一

  Necエレクトロニクス株式会社 テスト評価技術開発事業部

• 野中 淳平

  NECエレクトロニクス株式会社テスト評価技術開発事業部

• 野中 淳平

  Necエレクトロニクス株式会社 テスト評価技術開発事業部

著作論文

• 90nmデバイスのLVP測定容易性評価とLVP測定用素子の開発(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)
• 90nmデバイスのLVP測定容易性評価とLVP測定用素子の開発(LSIシステムの実装・モジュール化・インタフェース技術, テスト実装, 一般)

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