飯島 高志 | 独立行政法人産業技術総合研究所水素材料先端科学研究センター
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概要
関連著者
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飯島 高志
独立行政法人産業技術総合研究所水素材料先端科学研究センター
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飯島 高志
産業技術総合研究所水素材料先端科学研究センター
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柴田 幸司
八戸工業大学工学部電子知能システム学科
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増田 陽一郎
八戸工業大学
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柴田 幸司
八戸工業大学
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飯島 高志
産業技術総合研究所
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飯島 高志
産業技術総合研
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飯島 高志
独立行政法人産業技術総合研究所 スマートストラクチャー研究センター
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横川 清志
中工研
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横川 清志
独立行政法人産業技術総合研究所水素材料先端科学研究センター
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横川 清志
産業技術総合研 基礎素材研究部門
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横川 清志
独立行政法人産業技術総合研究所
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福山 誠司
独立行政法人産業技術総合研究所水素材料先端科学研究センター
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今出 政明
独立行政法人産業技術総合研究所水素材料先端科学研究センター
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岡村 総一郎
東京理科大学理学部応用物理学科
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張 林
独立行政法人産業技術総合研究所水素材料先端科学研究センター
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下山 慶
八戸工業大学
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岡村 総一郎
東京理科大学理学部
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福山 誠司
産総研
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飯島 高志
産総研
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小室 雄太郎
東京理科大
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張 林
独立行政法人産業技術総合研究所(以下産総研)
著作論文
- 分割円筒空洞共振器によるPZT厚膜の複素誘電率測定における試料挿入部の影響に関する検討(マイクロ波一般,マイクロ波シミュレータ/一般)
- C-2-50 PZT厚膜装荷CPWの試作および諸検討(C-2.マイクロ波B(マイクロ波・ミリ波受動デバイス),一般セッション)
- 分割円筒空洞共振器法によるPZT厚膜の複素誘電率測定における横共振法および摂動法の適用(マイクロ波信号発生と計測技術/一般)
- TE_分割円筒空洞共振器法によるPZT厚膜の複素誘電率測定法の基礎検討
- PZT薄膜装荷CPWのバイアス電圧印加特性に関する基礎検討(マイクロ波/一般)
- PZT薄膜装荷CPWのバイアス電圧印加特性に関する基礎検討(マイクロ波/一般)
- 化学溶液法を用いたジルコン酸チタン酸鉛厚膜の作製とその圧電特性評価 (特集 先端セラミックスプロセス技術(1))
- 低温におけるSUH660鉄基合金及びオーステナイト系ステンレス鋼の内部可逆水素脆化に及ぼす温度の影響
- オーステナイト系ステンレス鋼の高圧水素ガス脆化に及ぼす熱処理の影響
- 438 微小変位計測によるジルコン酸チタン酸鉛膜の圧電特性評価(複合機能化材料・デバイスとその加工プロセス)