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山本 英明 | 早稲田大学理工学術院
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渡邉 孝信
早稲田大学工学部
渡邉 孝信
早稲田大学理工学術院
山本 英明
早稲田大学理工学術院
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早稲田大学理工学術院
登坂 亮
早稲田大学理工学術院
渡邉 孝信
早稲田大学 理工学術院
著作論文
分子動力学法によるGeO_2/Ge界面のモデリング : SiO_2/Si界面との違い(レギュラーセッション,ゲート絶縁薄膜,容量膜,機能膜及びメモリ技術)
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