南 裕二 | 株式会社東芝 重電技術研究所 エレクトロニクス技術開発部 信頼性技術グループ

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概要

• 同名の論文著者
• 株式会社東芝 重電技術研究所 エレクトロニクス技術開発部 信頼性技術グループの論文著者

関連著者

• 佐々木 恵一

  株式会社東芝 重電技術研究所

• 南 裕二

  株式会社東芝 重電技術研究所 エレクトロニクス技術開発部 信頼性技術グループ

• 安達 健二

  株式会社東芝 重電技術研究所 エレクトロニクス技術開発部 信頼性技術グループ

• 熊丸 智雄

  株式会社東芝 重電技術研究所 エレクトロニクス技術開発部 信頼性技術グループ

• 安達 健二

  東芝電力システム社

• 安達 健二

  株式会社東芝

• 南 裕二

  (株)東芝

• 熊丸 智雄

  (株)東芝

著作論文

• 6-1 ICのアルミ配線腐食を劣化指標とする診断法(日本信頼性学会第9回信頼性シンポジウム)
• 腐食検出によるICの劣化(寿命)診断技術の検討

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