岩崎 学 | 成蹊大学工学部経営工学科
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概要
関連著者
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岩崎 学
成蹊大学工学部経営工学科
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稲葉 由之
総務省統計研修所
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高橋 慶一
日本セミコンダクター(株)プロセス技術部
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稲葉 由之
成蹊大学大学院
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高畑 一夫
沖電気工業
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岩崎 学
成蹊大学
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岩崎 学
成蹊大学理工学部情報科学科
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阿部 貴行
慶應義塾大学医学部クリニカルリサーチセンター
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飯塚 克俊
日本セミコンダクター(株)
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阿部 貴行
万有製薬株式会社臨床医薬研究所生物統計部統計解析課
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根本 敦史
成蹊大学
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根本 敦史
成蹊大学大学院
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稲葉 由之
成蹊大学工学研究科
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阿部 研自
成蹊大学大学院工学研究科
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竹越 香苗
日本化薬株式会社
著作論文
- 半導体プロセスにおけるエッチング特性の最適化 : 混合実験の効果的適用
- 2-7 半導体プロセスにおけるエッチング特性の最適化 : 混合実験の効果的運用(第43回研究発表会)
- 定量限界,検出限界を持つデータによる回帰パラメータの推定
- 臨床試験における同等性の検証 : 対応のあるデータの場合
- ニューラルネットによる秘匿値の補完
- 統計表における秘匿の補完法
- クロス集計表における秘匿の影響に関する数値的評価
- 2段階抽出による2つの二項確率の検定におけるサンプルサイズの推定と検出力の評価
- 多重比較法における不等分散の影響評価
- Mid-P Value: its idea and properties