門野 博史 | 埼玉大
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概要
関連著者
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門野 博史
埼玉大学工学部理工学研究科環境センシング研究室
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門野 博史
埼玉大
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門野 博史
埼玉大工
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豊岡 了
埼玉大院理工
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豊岡 了
埼玉大学大学院理工学研究科
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豊岡 了
埼玉大学工学部理工学研究科環境センシング研究室
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門野 博史
埼玉大学大学院理工学研究科
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豊岡 了
埼玉大学大学院理工学研究科環境制御システムコース
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Madjarova Violeta
埼玉大学大学院理工研究科環境制御専攻
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豊岡 了
埼玉大理工
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三輪 誠
埼玉県環境科学国際センター
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冨永 学
茨城工業高等専門学校
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本橋 研
埼玉大学
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Madjarova Violeta
埼玉大
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平原 裕行
埼玉大
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小林 幸一
埼玉大学工学部理工学研究科環境センシング研究室
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山口 一郎
(株)東洋精機製作所技術部
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冨永 学
茨城高専
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齋藤 隆行
富士写真光機
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平原 裕行
埼玉大学工学部機械工学科
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冨永 学
茨城工業高等専門学校機械システム工学科
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三輪 誠
埼玉県環境科学国際セ
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ラルハヤケ P.
Dept. Mechanical & Manufacturing Engineering, University of Ruhuna
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千田 博之
埼玉大学大学院理工研究科環境制御専攻
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斎藤 隆行
富士写真光機株式会社光学機器部
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孫 萍
富士写真光機株式会社光学機器部
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岡 和彦
北大工
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マジャロヴァ V.
埼玉大
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岡 和彦
北海道大学大学院工学研究院応用物理学部門
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岡 和彦
北大院工
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齋藤 隆行
富士写真光機(株)
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齋藤 隆行
フジノン株式会社光学機器部
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豊岡 了
埼玉大学工学部
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山口 一郎
(株)東洋精機製作所
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門野 博史
埼玉大理工
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中村 智広
埼玉大理工
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黒豆 健太郎
埼玉大学
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高橋 玄洋
埼玉大学
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齋藤 隆行
フジノン
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戸嶋 裕也
埼玉大
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ラルハヤケ P.
Dept. Mechanical & Manufacturing Engineering University Of Ruhuna
著作論文
- 統計干渉法による植物のナノ成長モニタリング (特集:スペックル研究と応用のいま)
- スペックル相関法による植物生長測定
- DESPIによるひずみ進展過程の動的解析 (〔日本実験力学会〕2006年度年次講演会)
- 植物の成長の光学的非接触計測とその環境センシングへの応用
- 電子的スペックル干渉法を用いた接合材料の熱変形計測とヒルベルト変換法による高精度位相解析(熱に関わる計測技術)
- レーザスペックルを利用した接合材の熱変形過程の連続精密計測(OS9-II「実験応力・ひずみ解析の先端技術」)
- 統計的干渉法によるアカマツ実生苗の根のナノメータ生長計測--新しい植生診断の可能性 (特集 植物と光技術)
- 1201 汎用金属材料における不均一変形挙動のESPI観察(OS10 材料の安全性評価(2))
- 低ひずみ速度域におけるSUS304ステンレス鋼の特異な変形挙動の全視野観察
- 植物の成長の光学的非接触計測--新しい環境診断の可能性 ([日本実験力学会]分科会合同ワークショップ2007 実験力学における計測・データ処理の問題点・ノウハウ・工夫)
- デジタル画像相関法による植物の回旋運動の解析 ([日本実験力学会]2007年度年次講演会)
- 統計干渉法による植物生長のナノメータ揺らぎの観測 ([日本実験力学会]2007年度年次講演会)
- 401 干渉法による微視的構造物の動的変形解析(OS11-1:実験力学による材料評価の新展開(1),OS11:実験力学による材料評価の新展開)
- 顕微スペックル干渉法によるMEMSの動的変形計測
- 統計的干渉法を用いたオゾンストレス下の植物の生長計測 (〔日本実験力学会〕2006年度年次講演会)
- ヒルベルト変換位相解析法による動的干渉縞解析--顕微干渉計視野内のMEMSの動作診断 (〔日本実験力学会〕2006年度年次講演会)
- 高精度位相解析可能な動的ESPI装置の開発
- 光応用計測
- スペックル干渉計測における位相データ処理
- 動的スペックル干渉法(DESPI)におけるヒルベルト変換法による位相解析
- 統計干渉法を用いた環境ストレス下の植物の超高感度動態計測 (特集:環境モニタリングと光技術)
- 顕微鏡DESPIによる微視的構造物の変形解析(OS8-2 光学的手法,OS8 実験力学の新たな発展)
- 統計干渉法による植物を通した環境計測
- 分光法・バイオスペックル法による植性観察
- 高精度光波干渉技術を用いた植物の動態計測
- スペックル統計干渉法による高精度ひずみ計測
- 415 DESPI によるアルミ合金の塑性変形過程における PLC 効果の動的全視野計測
- バイオ計測の新しいツール : スペックル干渉法の新展開
- 動的ESPIの和差法による高精度位相解析
- 解説 スペックル統計干渉法による高精度ひずみ計測 (特集 スペックルおよび散乱)
- 統計的干渉法による植物の変形のナノメートル計測
- 動的ESPIの和差法による高精度位相解析
- 色素ドープ反強誘電性液晶による自己配置型位相フィルターとその位相差顕微鏡への応用
- 統計的干渉計測法による高精度変位計測
- J0503-1-1 スペックル干渉法による圧力の面計測([J0503-1]多次元計測技術の展開と応用(1))