浦岡 行治 | 松下電器産業半導体研究センター

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• 畑田 賢造

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著作論文

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• 高速リングオシレータ動作におけるMOSEFTのホットキャリア劣化
• 高ゲートストレス下におけるpMOSFETの劣化現象

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