薮内 康文 | 松下テクノリサーチ
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概要
関連著者
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薮内 康文
松下テクノリサーチ
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一色 俊之
京工繊大工芸
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塩尻 詢
京工繊大・工芸
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辻倉 正一
京工繊大
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一色 俊之
京工繊大 物理
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塩尻 詢
京工繊大 物理
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塩尻 詢
京工繊大
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塩尻 詢
京工繊大工芸
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西城 浩志
京工繊大工芸
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高橋 康仁
松下電器産業半導体研究センター
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高橋 康仁
松下電器半導体センター
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大塚 信之
松下電器半導体センター
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西城 浩志
京都工繊大 工芸
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辻倉 正一
京工繊大工芸
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西城 浩志
京工繊大・工芸
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神前 隆
株式会社松下テクノリサーチ半導体解析チーム
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Otsuka Nobuyuki
Semiconductor Research Center Matsushita Electric Industrial Co. Ltd.
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Otsuka Nobuyuki
Advanced Technology Research Laboratories Matsushita Electric Industrial Co. Ltd.
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Otsuka Nobuyuki
Telecommunications Advancement Organization Of Japan Sendai Research Center
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伴 雄三郎
松下電器産業株式会社先端技術研究所
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伴 雄三郎
松下電器産業
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石橋 明彦
松下電器産業株式会社先端技術研究所
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武石 英見
松下電器産業(株)半導体研究センター
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萬濃 正也
松下電器産業(株)半導体研究センター
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薮内 康文
(株)松下テクノリサーチ
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西尾 弘司
京工繊大工芸
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西尾 弘司
京工繊大・工芸
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西尾 弘司
京都工繊大電子システム
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高橋 昇
豊橋技科大
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萬濃 正也
松下電器産業
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塩尻 詢
国際電子顕微鏡学会連合
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西城 浩志
京都工芸繊維大学工芸学部
著作論文
- MOVPE法による GaN 結晶成長におけるバッファ層の効果
- 28a-ZB-6 InGaAs/InP多層膜界面の高分解能電子顕微鏡像
- 30a-L-2 InGaAs/InP多層結晶のHRTEM観察
- 28p-S-3 二硫化モリブデンの層状構造と積層欠陥の電子顕微鏡像
- デバイス,デバイス材料 (ミニ特集 電子顕微鏡による材料研究の最前線(第2回)半導体・セラミックス機能材料の格子欠陥とミクロ構造の観察)
- FIB法による試料作製技術 (特集 見る--最新顕微鏡の周辺技術)
- FIBを用いた新しいTEM試料作製法