長谷川 健 | 東京工業大学大学院理工学研究科

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概要

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関連著者

• 長谷川 健

  東京工業大学大学院理工学研究科

• 長谷川 健

  東京工業大学大学院理工学研究科化学専攻

• 長谷川 健

  東邦大学大学院理学研究科

• 中村 健太郎

  東京工業大学精密工学研究所

• 上羽 貞行

  東京工業大学精密工学研究所

• 小山 大介

  東京工業大学精密工学研究所

• 上羽 貞行

  東工大精研

• 長谷川 健

  東工大精研

• 中村 健太郎

  東京工業大学

• 山田 哲弘

  千葉大学教育学部

• 上羽 貞行

  東京工業大学

• 上羽 貞行

  Precision And Intelligence Laboratory Tokyo Institute Of Technology

• 小山 大介

  東京工業大学

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著作論文

• 赤外分光測定法-基礎と最新手法第I部 基礎編 : 第4回6. 赤外分光におけるケモメトリックス
• 仮想光計測という概念が拓く新しい薄膜構造解析 : 赤外MAIR分光法の原理と生体薄膜の構造解析
• 記録の価値 : 分析化学の楽しみ
• 多角入射分解赤外分光法の原理と実際
• 赤外分光法を用いた界面のはかりかた
• 計量化学が拓く新しい界面の光計測(計量生物工学-ポストIT時代の生物工学)
• 赤外MAIR分光法による階層構造化超分子フィルムの構造解析
• たわみ振動板を用いた小型超音波ポンプ(強力超音波)
• 赤外分光法による2次元分子凝縮系の分子構造解析
• 赤外分光測定法-基礎と最新手法第II部 各種測定法 : 第5回7A. 正反射測定法
• 赤外分光測定法-基礎と最新手法第II部 各種測定法 : 第5回7B. 薄膜・界面の外部反射測定法

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