高柳 万里子 | 株式会社 東芝 セミコンダクター社

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概要

• 同名の論文著者
• 株式会社 東芝 セミコンダクター社の論文著者

関連著者

• 渡辺 健

  (株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター

• 高柳 万里子

  (株)東芝セミコンダクター社SoC研究開発センター

• 渡辺 健

  株式会社 東芝 セミコンダクター社

• 高柳 万里子

  株式会社 東芝 セミコンダクター社

著作論文

• HfSiONゲート絶縁膜CMOSの性能と信頼性におけるHf濃度の影響

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