TRAPPE Cyril | Institute of Semiconductor Electronics II, Rheinisch-Westfailsche Technische Hochschule, Sommerfelds

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概要

• 同名の論文著者
• Institute of Semiconductor Electronics II, Rheinisch-Westfailsche Technische Hochschule, Sommerfeldsの論文著者

関連著者

• Kurz H

  Rwth Aachen Aachen Deu

• TRAPPE Cyril

  Institute of Semiconductor Electronics II, Rheinisch-Westfailsche Technische Hochschule, Sommerfelds

• BECHEVET Bernard

  Laboratoir d'Electronique de Technologie et d'Instrumentation

• FACSKO Stefan

  Institute of Semiconductor Electronics II, Rheinisch-Westfailsche Technische Hochschule, Sommerfelds

• KURZ Heinrich

  Institute of Semiconductor Electronics II, Rheinisch-Westfailsche Technische Hochschule, Sommerfelds

• Kurz Heinrich

  Institut Fur Halbleitertechnik Rwth Aachen

• Trappe Cyril

  Institute Of Semiconductor Electronics Ii Rheinisch-westfailsche Technische Hochschule Sommerfeldstr

• Facsko Stefan

  Institute Of Semiconductor Electronics Ii Rheinisch-westfailsche Technische Hochschule Sommerfeldstr

• Bechevet Bernard

  Laboratoir D'electronique De Technologie Et D'instrumentation

• Bechevet Bernard

  Cea

• Kurz H

  Institute Of Semiconductor Electronics Ii Rheinisch-westfailsche Technische Hochschule Sommerfeldstr

• HYOT Berangere

  Laboratoir d'Electronique de Technologie et d'Instrumentation

• WINKLER Olaf

  Institute of Semiconductor Electronics II, Rheinisch-Westfailsche Technische Hochschule, Sommerfelds

• Hyot Berangere

  Laboratoir D'electronique De Technologie Et D'instrumentation

• Winkler Olaf

  Institute Of Semiconductor Electronics Ii Rheinisch-westfailsche Technische Hochschule Sommerfeldstr

• Kurz Heinrich

  Institut für Halbleitertechnik, RWTH Aachen, D-52074 Aachen, Germany

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著作論文

• Recrystallization Dynamics of Phase Change Optical Disks with a Nitrogen Interface Layer
• Real Time Measurements of Phase Change Dynamics

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