泊 博幸 | 福岡大学理学部
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概要
関連著者
著作論文
- Si基板上に形成した多結晶Bi_La_xTi_3O_薄膜の容量-電圧(C-V)ヒステリシス特性と界面状態の評価(薄膜(Si,化合物,有機)機能デバイス・材料・評価技術)
- Si基板上に形成した多結晶Bi_La_xTi_3O_薄膜の容量-電圧(C-V)ヒステリシス特性と界面状態の評価(薄膜(Si,化合物,有機)機能デバイス・材料・評価技術)
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