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池田 隆英 | 日立中研
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池田 隆英
日立中研
田村 誠男
日立中研
槌本 尚
日立中研
徳山 巍
日立中研
森田 忠久
日立中研
著作論文
8p-E-10 イオン打込みによって生じたSi中の欠陥(II)
7a-E-8 イオン打込みによって生じたSi中の欠陥
シリコンのホツトインプランデーシヨン : 半導体 (拡散・インプランテーション)
イオン打込みによるシリコン結晶の欠陥 : 半導体 (拡散・インプランテーション)
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