米沢 利明 | 日本鉱業株式会社鉱山部選鉱課

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論文 | ランダム

• 両面不等厚除去・両面X線照射法による平板の残留応力測定
• ひずみゲージ法による異方性積層板の残留応力測定 : ゲージ剛性とゲージベース厚さを考慮した場合
• 積分方程式からの残留応力測定理論の追求
• 片面除去-X線両面照射法による中空円筒の残留応力測定
• 両面除去・両面X線照射法による中空円筒の残留応力測定

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