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西山 喩義 | 小倉衞戍病院
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両面不等厚除去・両面X線照射法による平板の残留応力測定
ひずみゲージ法による異方性積層板の残留応力測定 : ゲージ剛性とゲージベース厚さを考慮した場合
積分方程式からの残留応力測定理論の追求
片面除去-X線両面照射法による中空円筒の残留応力測定
両面除去・両面X線照射法による中空円筒の残留応力測定
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