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岩田 修司 | 三菱電機(株)材料デバイス研究所
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三菱電機(株)材料デバイス研究所 | 論文
分子線およびレーザー照射による光化学反応性分子膜の作製
HfSiO_x薄膜のXAFSによる局所構造解析(極薄ゲート絶縁膜・シリコン界面の評価技術・解析技術)
放電表面処理における電流パルス形状の検討
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115 放電表面処理における電流パルス形状の検討
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