伊藤 洋 | 日本原子力研究所・高崎研究所

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概要

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日本原子力研究所・高崎研究所 | 論文

• MNOS構造のトータルドーズ効果における絶縁膜厚依存性
• MNOS構造のトータルドーズ効果における絶縁膜厚依存性
• MOS構造のγ線照射前後での酸化膜中電荷分布評価
• 44. アラニン線量計測システムの開発
• 放射線照射による鶏卵オボムコイドの免疫化学的性質の変化

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