潟岡 泉 | 日本航空電子工業(株)中央研究所
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概要
関連著者
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潟岡 泉
日本航空電子工業(株)中央研究所
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潟岡 泉
日本航空電子工業 (株)
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伊藤 和彦
日本航空電子
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上田 暁俊
国立天文台
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植田 憲一
電気通信大学レーザー新世代研究センター
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上田 暁俊
電気通信大学レーザー極限技術研究センター
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中村 憲司
日本航空電子工業(株)中央研究所
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北島 直哉
日本航空電子工業(株)中央研究所
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植田 憲一
電気通信大学 レーザー新世代研究センター
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西田 恵美子
日本航空電子工業(株)中央研究所
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伊藤 和彦
日本航空電子工業(株)中央研究所
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西田 恵美子
日本航空電子工業 中研
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植田 憲一
電気通信大学
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西田 恵美子
日本航空電子工業 (株) 中央研究所研究開発部
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佐藤 修一
国立天文台
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大橋 正健
国立天文台
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渡邉 晃司
日本航空電子
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三代木 伸二
国立天文台宇宙計量部門
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関根 啓一
日本航空電子工業(株)中央研究所
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江藤 和幸
日本航空電子工業(株)中央研究所
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上原 昇
電気通信大学レーザー研
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内沢 勝美
電気通信大学レーザー研
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関口 久夫
日本航空電子 中央研究所 研究開発部
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三嶽 隆義
日本航空電子 中央研究所 研究開発部
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上原 昇
日本航空電子工業
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植田 憲一
電通大
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関根 啓一
日本航空電子工業 中研
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江藤 和幸
日本航空電子工業 中研
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米満 敏浩
日本航空電子工業 (株)
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江藤 和幸
日本航空電子工業株式会社
著作論文
- 重力波検出干渉計用大口径ミラーの評価
- レーザージャイロの開発を通して学んだ事
- 非球面研磨加工技術(EUV基盤技術とその応用の現状)
- 光学薄膜の低欠陥・超平滑形成技術
- 多層膜コートグレーティングの最前線
- 超低損失ミラーの現状
- 損失1.5ppmの超高品質ミラーの開発と計測
- 軟X線光学用多層膜(アトミックルールプロセス)
- 軟X線用多層膜ミラ-技術 (小特集:X線光学技術とその応用)
- X線多層膜の製作法と評価法 (特集 最近のX線技術)
- 超高品位ミラ-用多層膜技術 (特集「薄膜技術」)
- オプトメカトロニクス時代の超精密研磨技術-30-軟X線光学素子(直入系)
- オプトメカトロニクス時代の超精密研磨技術-24-レ-ザジャイロ用極低散乱ミラ-
- 軟X線光学用酸化物/金属多層膜の研究 : 膜組織のOrdering Factorによる評価と粗さの関係