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山城 安啓 | 山口大学医学部臨床検査医学教室
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GaAs系HBTの信頼性と結晶欠陥の相関
高濃度炭素ドープGaAs中の水素および炭素関連欠陥による通電劣化
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1p-T-5 電子励起下におけるGaAs中の炭素・水素結合の不安定化
少数キャリア注入による GaAs ダイオードの水素誘起劣化
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