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日本顕微鏡学会分析電子顕微鏡分科会 | 論文
- 材料系のTEM用試料薄片化 (試料作製の基礎と応用展開)
- 単粒子解析とトモグラフィー (分析技術の進展--ソフトの最前線)
- TEM-EELSの先端研究
- TEM-EELS入門--操作に役立つハードウェア知識 (チュートリアル)
- STEM-EELSによる原子列の可視化 (最近の分析手法の進展)
- EELS基礎--透過電子顕微鏡における電子エネルギー損失分光法 (チュートリアルセッション)
- 歯科金属(EDX/XRF-FP)--金属アレルギーを中心として (先端材料への新展開)
- EDSの基礎
- EDSの基礎 (チュートリアルセッション)
- 高分子階層構造のナノ・メゾスケール3次元観察・解析 (3D技法の最前線)
- 最新FIB装置の紹介--TEM試料作製を中心としたナノ精密加工への応用 (デバイスプロセス評価最前線)
- 高分子材料における電子線トモグラフィーを用いた三次元観察と構造解析 (先端材料への新展開)
- マルチスライス法によるHREM、STEM-HAADFシミュレーション (最新のシミュレーション技法)
- 位置分解型TEM-EELSによる半導体界面の解析 (先端材料への新展開)
- 低加速ArイオンによるFIB加工ダメージ除去技術 (試料作成法の新展開)
- 分析用半導体試料作製法 (試料作製の新展開)
- カーボンナノチューブにおける点欠陥の生成・消滅過程の動的観察 (分析技法の最前線)
- CsコレクタTEMの応用 (最近の分析手法の進展)
- 低加速収差補正TEM/STEMによるナノカーボン材料の観察 (観察・分析技法の最前線)
- TEM用二探針ピエゾ駆動ホルダを利用した構造・電磁場・伝導性のマルチ解析 (電顕内でのその場ナノ物性計測)