超厚膜4H-SiCエピタキシャル成長と欠陥低減 (特集 いよいよ本格化するSiCパワー半導体技術の普及 : 省エネルギーの切り札) -- (結晶・プロセス)
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- 大容量SiCツェナーダイオードの作製と電気特性評価
- 大容量SiCツェナーダイオードの作製と電気特性評価
- 超厚膜4H-SiCエピタキシャル成長と欠陥低減 (特集 いよいよ本格化するSiCパワー半導体技術の普及 : 省エネルギーの切り札) -- (結晶・プロセス)
- 4H-SiCエピタキシャル成長における欠陥挙動解析と欠陥制御技術(SiCの現状と今後の展開)