赤外線サーモグラフィを用いた表面近傍の内部欠陥の検出 (第8回知能メカトロニクスワークショップ講演論文集) -- (S11. 新しい計測検査技術)
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概要
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- 〔精密工学会〕の論文
- 2003-08-21
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