電源電流のパワースペクトル解析による高速不良検出 (新しい地球環境と豊かなネットワーク社会を生み出す半導体技術) -- (第6回STS Award受賞記念講演)

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概要

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著者

• 神村 重弘

  安藤電気株式会社

• 坂口 和宏

  NEC デバイス評価技術研究所

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