坂口 和宏 | NEC デバイス評価技術研究所

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概要

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• 同名の論文著者
• NEC デバイス評価技術研究所の論文著者

関連著者

• 坂口 和宏

  NEC デバイス評価技術研究所

• 神村 重弘

  安藤電気株式会社

• 花島 光忠

  安藤電気株式会社

• 下中 裕美

  安藤電気株式会社

• 鶴見 裕二

  安藤電気株式会社

• 松井 直久

  安藤電気株式会社

• 坂口 和宏

  NECデバイス評価技術研究所

著作論文

• C-12-10 I_スペクトル法を用いたロジックテスタの開発
• 電源電流のパワースペクトル解析による高速不良検出
• 電源電流のパワースペクトル解析による高速不良検出 (新しい地球環境と豊かなネットワーク社会を生み出す半導体技術) -- (第6回STS Award受賞記念講演)
• 電源電流のパワースペクトル解析による集積回路の故障診断

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