Sn-Ag系鉛フリーはんだのクリープ疲労損傷機構とひずみ範囲分割法を用いた寿命予測 (MES2000 第10回マイクロエレクトロニクスシンポジウム)
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概要
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- エレクトロニクス実装学会の論文
- 2000-11-09
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