実装ボード自動故障解析システムの開発 (MES'98 第8回マイクロエレクトロニクスシンポジウム) -- (生産技術・装置)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• エレクトロニクス実装学会の論文
• 1998-12-16

著者

• 與島 政幸

  Necデバイス評価技術研究所

• 二階堂 正人

  Necデバイス評価技術研究所

• 飯田 政良

  NECデバイス評価技術研究所

関連論文

• 実装ボード自動故障解析システム
• 実装ボード自動故障解析システムの開発 (MES'98 第8回マイクロエレクトロニクスシンポジウム) -- (生産技術・装置)
• 実装ボード自動故障解析システム
• 多層基板におけるビア構造の特性解析 (MES'97(第7回マイクロエレクトロニクスシンポジウム論文集))

スポンサーリンク