真空紫外域の分光エリプソメトリー (特集:真空紫外領域の計測技術)

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 日本オプトメカトロニクス協会の論文

著者

• 鈴木 道夫

  ジェー・エー・ウーラム・ジャパン株式会社

関連論文

• アモルファス性有機半導体膜内における分子配向(発光・表示記録用有機材料およびデバイス・一般)
• アモルファス性有機半導体膜内における分子配向(発光・表示記録用有機材料及びデバイス・一般)
• アモルファス性有機半導体膜内における分子配向(発光・表示記録用有機材料及びデバイス・一般)
• PC06 繰り込みエリプソメトリーと一般化エリプソメトリーを用いたセルパラメーター解析(トピカルセッション-液晶物性計測の最前線-, 2005年日本液晶学会討論会)
• 真空紫外域の分光エリプソメトリー (特集:真空紫外領域の計測技術)
• 高温溶融状態の光ディスク材料複素屈折率測定

スポンサーリンク