小火器用照準解析装置 (長谷川教授退官記念号)
スポンサーリンク
概要
著者
関連論文
- 半導体検出器の表面効果 : 放射線物理
- Si表面酸化層におけるleakageの問題 : 半導体 : 結晶成長
- 半導体検出器におけるSurface State : 放射線物理
- フオトダイオードの諸特性 : 光
- 3p-H-4 Surface-barrier形半導体検出器の表面効果(II)
- 高速ストロボスコ-プの試作
- 弾丸と破片の運動量測定-2-測定装置
- 円筒内面による反射光パタ-ン
- 照準における見出しについて
- 小口径銃の引金特性
- 弾丸と破片の運動量測定-3-モアレ格子のピッチ測定
- 小火器の照準特性-1-テレビカメラを用いた照準位置解析装置の試作と6千式小銃の照準分布
- 小火器用照準解析装置 (長谷川教授退官記念号)
- J.M. Carroll編: Microelectronic Circuits and Applications, McGraw-Hill Book Co., New York, 1965, 360頁, 22×29cm, 3,900円.
- 光学ファイバー束の透過特性 : 光
- 転移温度近傍の剛性率と体積弾性率 (2) : 高分子
- 転移温度近傍における剛性率と体積弾性率の温変依存性 : 高分子