IR加硫物中の老化防止剤の簡易定性分析法の検討とその接触汚染試験への応用
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概要
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薄層クロマトグラフィー(TLC)を利用した加硫ゴム中の老化防止剤の簡易定性分析法について検討した. すなわち, TLCプレート上に加硫ゴム試験片をのせ, 若干の加重下室温で放置後, 得られたシリカゲルプレートを溶媒を用いて展開した. 分離後, 発色されたスポットのRf値及び色調, あるいは発色前のスポットの反射紫外可視吸収スペクトルから, 加硫ゴム中に添加されている老化防止剤IPPD, DPPD, DTBMPを同定することができた. また本法は配合された老化防止剤の接触汚染性試験法としても有用であることが示唆された.
著者
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太智 重光
大内新興化学工業株式会社中央研究所
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山本 義公
大内新興化学工業株式会社中央研究所
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秋元 恵一
大内新興化学工業
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酒向 泰蔵
大内新興化学工業
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秋元 恵一
大内新興化学工業株式会社
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太智 重光
大内新興化学工業株式会社
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山本 義公
大内新興化学工業株式会社
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山本 義公
大内新興化学工業(株)
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酒向 泰蔵
大内新興化学工業株式会社
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