寿命に対する信頼性的アプローチ

スポンサーリンク

概要

• 論文の詳細を見る
• 社団法人 日本ゴム協会の論文

著者

• 北川 賢司

  東京理科大学

• 北川 賢司

  東京理科大学理工学部

関連論文

• FTAの改良
• 設計審査について
• 電子デバイスへのFTAの応用
• 電子デバイスの劣化パターンと故障分布
• 寿命に対する信頼性的アプローチ
• 研究開発投資の内部収益率による評価
• 電子デバイスの寿命分布について
• 電気デバイスの加速寿命試験法
• 電子機器のFTAによる信頼度解析
• ベイズ法による寿命試験計画

スポンサーリンク